08 фев. 2018
Получен патент №2642886 от 29 января 2018. "Способ модуляции интенсивности рентгеновского пучка". Трушин В.Н., Чупрунов Е.В., Маркелов А.С., Грибко В.В.
10 дек. 2017
Получен патент №175213 от 01.12.2017. "Устройство для управления сходимостью рентгеновского пучка с ее настройкой". Трушин В.Н., Чупрунов Е.В., Маркелов А.С., Грибко В.В.
07 ноя. 2017
XXII Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Симпозиум будет проходить с 12 по 15 марта 2018 года в санатории «Автомобилист» вблизи Нижнего Новгорода.
Лаборатория рентгено-дифракционных и электронно-микроскопических исследований была организована в 1985 году и входит в состав отдела твердотельной электроники и оптоэлектроники (отдел №2)
НИФТИ ННГУ.
Созданию лаборатории предшествовала потребность в рентгеноструктурных исследованиях кристаллических образцов и тонких пленок.
Сотрудниками лаборатории было разработано множество различного рода методик и устройств, позволяющих на высоком научном уровне проводить исследования кристаллических структур.
Лаборатория активно участвует в различных научно-исследовательских работах проводимых в ННГУ и НИФТИ,
сотрудничает при выполнении НИР с Институтом физики микроструктур РАН, Российским Федеральным Ядерным Центром (РФЯЦ-ВНИИЭФ, г. Саров).
В 2022 году на лаборатория была переименована в Сектор №2.7.
Имеет более 200 опубликованных научных работ, 13 авторских свидетельств и патентов на изобретение. Является автором монографии «Управляемая рентгеновская дифракционная оптика»
Для студентов и магистрантов читает курс лекций по рентгеновской оптике.
Область научных интересов - влияние внешних воздействий на дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах; рентгеновская дифракционная оптика; рентгеновский фазовый анализ; рентгеновская дифракция высокого разрешения; рентгеновская рефлектометрия; компьютерное моделирование;
По данной тематике опубликовал более 90 научных трудов. Также имеет патенты на изобретения.
Исследование эпитаксиальных структур на основе полупроводников типа А3В5, А2В6 и их твердых растворов
Исследование нормальных и латеральных напряжений в эпитаксиальных структурах
Определение параметров кристаллических решёток
Определение степени структурного совершенства монокристаллических пластин и пленок
Фазовый и количественный анализ поликристаллических материалов
Определение ориентировки кристаллов
Измерение кривизны профиля монокристаллических пластин
Определение типа и состава твердого раствора
Определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)
Рентгенотопографические исследования поверхности монокристаллических пластин
Определение шероховатости поверхностей и границ раздела сред (типичный размер неоднородностей – менее 5 нм)
Определение толщин аморфных и кристаллических слоёв (обычно для слоев тоньше 200 нм)
Определение распределения плотности электронов
Дифрактометр высокого разрешения предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов. Благодаря ультрасовременной оптической системе D8 Discover позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) монокристаллов.
Рентгеновская трубка: Cu, 2 кВт
Минимальный шаг по углам Theta и 2Theta: 0,0001 град.
Подвеска образца имеет моторизированные оси Chi, Phi, X, Y, Z.
Поворот по углу Chi в интервале от -3 до +93 град.
Поворот по углу Phi в интервале от 0 до 360 град.
Вакуумный вращающийся держатель образцов диаметром 125 мм.
Параболическое фокусирующее многослойное рентгеновское зеркало (Зеркало Гёбеля) для Cu-излучения.
Блок-монохроматор на первичном пучке с 4-х кратным отражением Ge(220) для линии CuKa1.
Монохроматор на отраженном пучке с 3-х кратным симметричным отражением Ge(220).
Исследовательский дифрактометр XRD-7000 с вертикальным θ-θ гониометром (проба всегда неподвижна) используется для проведения рентгенофазового анализа, анализа степени кристалличности, анализа напряжений, остаточного аустенита и решения многих других задач.
Рентгеновская трубка: Cu, 3 кВт
Максимальное напряжение: 60 кВ, шаг 1 кВ
Минимальный шаг гониометра: 0.0001 град.
Диапазон углов сканирования: от -12 до +164 град.
Макимальные размеры образца (ДхШхВ): 400 мм х 550 мм х 400 мм
Дифрактометр предназначен для изучения структуры монокристаллов. Позволяет исследовать атомные структуры металлорганических кристаллов на основе комплексов переходных и поливалентных химических элементов и проводить прецизионные рентгеновские исследования разупорядоченных неорганических кристаллов применяемых в лазерной технике.
Одним из подходов к решению задачи контролируемой корректировки профиля поверхности дифракционного элемента (ДЭ) может быть использование температурно-управляемых изгибных модулей (ИМ), в состав которого входит ДЭ. Такой модуль можно получить приклеиванием ДЭ на подложку определенной формы. Принцип работы такого ИМ аналогичен работе биметаллической пластины, но в предлагаемом подходе ИМ представляет собой трехслойную структуру, в которой все слои являются активными, включая клей. При определенном подборе форм, параметров слоев входящих в ИМ и температуры приклеивания ДЭ к подложке, можно получить необходимый исходный профиль ДЭ с заданной кривизной, которой можно управлять изменением температуры ИМ.
Полезная модель относится к рентгеновской оптике и может быть использована в оборудовании для настройки коллимации и фокусировки рентгеновского излучения на основе корректировки кривизны рабочей поверхности (на которой происходит дифракция рентгеновского пучка по Брэггу) используемой в качестве дифракционного элемента монокристаллической пластины, например, в рентгеновской микроскопии, рентгеновской спектроскопии, в диффрактометрах, а также в астрономии, физике, биологии, медицине и других областях.
Е.В.Чупрунов, М.А.Фаддеев, Е.В.Алексеев. Рентгеновские методы исследования твёрдых тел
В.Н.Трушин, П.В.Андреев, М.А.Фаддеев. РЕНТГЕНОСКИЙ ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
В.Ю.Петухов, Г.Г.Гумаров. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ТВЕРДЫХ ТЕЛ МЕТОДОМ СКОЛЬЗЯЩЕГО РЕНТГЕНОВСКОГО ПУЧКА
Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
Свергун Д.И.,Фейдин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние
Адрес: 603950, г. Нижний Новгород, просп. Гагарина, 23, корп.3, к.402
Контактное лицо: Трушин Владимир Николаевич
Телефон: Показать номер
E-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
